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產品名稱: 掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II產品型號:產品時間: 2023-11-21掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 IIlexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節功能,可以在短時間內進行各種觀察。
產品介紹
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
lexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節功能,可以在短時間內進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現最直觀的視野移動。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現4.0 nm的分辨率
· 憑借*的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現最高的畫質
· 全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實現高畫質和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位
· 大直徑(30毫米2)無氮EDS檢測器,可快速進行元素分析*2
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
項目 | 內容 |
分辨率*3 | 4.0 nm(二次電子像、加速電壓:20 kV、高真空模式) |
加速電壓 | 0.3 kV~20 kV |
倍率 | ×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空設置 | 6~100 Pa |
電子槍 | 集中燈箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
樣品臺 | 3軸馬達驅動樣品臺 |
最大樣品尺寸 | 直徑80 mm(選配:直徑153mm) |
最大樣品高度 | 40 mm |
尺寸 | 機體:450(寬度)×640(進深)×690(高度) mm |
選項 | · 高敏感度低真空檢測器(UVD2.0) · 能量色散型X射線檢測器(EDS) |
軟件 | Multi Zigzag(連續視野圖像導入功能) |
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